专利详情

专利名称	600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置
申请号	CN200610023426.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1804592	公开（授权）日	2006.07.19
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	邵军;陆卫;越方禹;吕翔;李志锋;郭少令;褚君浩
主分类号	G01N21/64(2006.01)	IPC主分类号	G01N21/64(2006.01);G01N21/27(2006.01)
专利有效期	600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置至600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置。该装置包括具有步进扫描功能的傅立叶变换红外光谱测量系统，作为激发光源的激光器、以及连接傅立叶变换红外光谱仪中探测器与电路控制板的锁相放大器、置于样品与激光器之间光路上的斩波器，从而使连续激发光变为幅度调制激发光，并馈入锁相放大器的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行可见/近红外波段调制光致发光谱测量，包括消除傅立叶变换红外光谱仪内部氦氖激光的干扰；消除傅立叶频率和增强可见/红外波段光致发光微弱信号的探测能力三个功能。经过对发光峰位于600－700nm附近的 InGaP/A1GaInP多量子阱材料进行光致发光谱的测试。表明：本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪比，并具有快速、便捷的优点，特别适用于600－700nm波段半导体材料微弱光致发光特性的检测。