专利详情

专利名称	波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法
申请号	CN201210074732.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102636333A	公开（授权）日	2012.08.15
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	曾爱军;朱玲琳;李凡月;袁乔;黄惠杰
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法至波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法，该装置由准直激光器、圆起偏器、一维光栅、标准四分之一波片、第一渥拉斯顿棱镜、第二渥拉斯顿棱镜、第三渥拉斯顿棱镜、第一准直透镜、第二准直透镜、第三准直透镜、第一双象限探测器、第二双象限探测器、第三双象限探测器、衰减器和信号处理系统组成，本发明能同时且实时地测量波片的相位延迟量和快轴方位角，测量范围大且测量结果不受初始光强波动、衍射效率差异和子光束电路常数差异的影响。