
一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置
- 申请号:CN201210117123.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102636271A
- 公开(公开)日:2012.08.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 | ||
申请号 | CN201210117123.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102636271A | 公开(授权)日 | 2012.08.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 鲍华;饶长辉;李梅 |
主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 至一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置,由光束匹配系统、成像透镜、分光镜、反射镜、带有小孔的反射镜、平移机构和光电探测器CCD组成,其特征在于所述的差分光学系统:可通过一个光电探测器同时获得同一目标的焦面图像和离焦面图像;不损失待成像目标的光强能量;离焦面可获得从零逐渐增大的连续可调离焦量;焦面和离焦面图像在光电探测器CCD靶面中的位置能任意调整。相对于目前用于相位差法的各种成像技术,本发明结构简单稳定,可通过一个光电探测器同时获得焦面和离焦面两幅图像,能灵活调整用于相位差法的各项参数,并且能实现最大光能利用,为相位差法波前测量技术在实际工程,尤其是弱光条件下的运用奠定基础。 |
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