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基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法

  • 申请号:CN201110399256.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102628897A
  • 公开(公开)日:2012.08.08
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法
申请号 CN201110399256.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102628897A 公开(授权)日 2012.08.08
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 赵志儒;阎跃鹏;于进勇;张晓飞
主分类号 G01R31/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/00(2006.01)I
专利有效期 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法 至基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及放大器的非线性参数测试技术领域,公开了一种基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法,包括:将信号源、待测放大器和功率计依次连接;信号源向待测放大器输入功率,并逐步加大输入功率,功率计测量每一输入功率对应的输出功率;根据测量的输入功率和输出功率,确定N1dB压缩点输入功率和N2dB压缩点输入功率;由N1dB压缩点输入功率和N2dB压缩点输入功率计算输入功率的差值Δ;将该差值Δ代入三阶交调计算公式计算出N1dB压缩点输入功率与三阶交调点输入功率的功率差值ΔIIP3;以及对该功率差值ΔIIP3进行修正,得到三阶交调点输入功率值。本发明降低了测试系统的成本,简化了测试结构,在经过算法的计算后,加上校正值修正从而能保证很高的精度。

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