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纳米材料测试装置

  • 申请号:CN201120538631.0
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所
  • 公开(公开)号:CN202383095U
  • 公开(公开)日:2012.08.15
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 纳米材料测试装置
申请号 CN201120538631.0 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202383095U 公开(授权)日 2012.08.15
申请(专利权)人 中国科学院上海应用物理研究所 发明(设计)人 文闻;张兴民;高梅;杨铁莹;何庆;周兴泰
主分类号 G01N23/207(2006.01)I IPC主分类号 G01N23/207(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I
专利有效期 纳米材料测试装置 至纳米材料测试装置 法律状态
说明书摘要 本实用新型公开了一种纳米材料测试装置,包括一个石英管,所述石英管两端各由一个固定架固定并密封,石英管旁设置加热部件,石英管内部设置温度传感器。本实用新型阐述的纳米材料测试装置使待测纳米材料在高温气氛下,能够精确的对其温度和衍射光谱信号进行测量和收集,大大方便了纳米材料的基础研究工作。

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