专利详情

专利名称	用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法
申请号	CN200410009835.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1779452	公开（授权）日	2006.05.31
申请（专利权）人	中国科学院理化技术研究所	发明（设计）人	付绍云;潘勤彦;黄传军;赵立中
主分类号	G01N25/16(2006.01)	IPC主分类号	G01N25/16(2006.01);G01B7/16(2006.01)
专利有效期	用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法至用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用位移传感器测量聚合物基泡沫材料线膨胀系数的方法：首先将待测材料的测量区固定在位移传感器两钳臂的端部间，并置入4.2－300K温区中；再将传感器中的相互连接成惠斯通桥的电阻应变片的连接引线与电阻应变仪连接，电阻应变仪与计算机相连；待测材料在所处的温区中随温度变化而发生变形，位移传感器两钳臂间随待测材料的变形而产生夹持力，惠斯通桥的电阻应变片将变形的位移量转换为电量，电阻应变仪将惠斯通桥的输出信号放大后传给计算机，计算机进行处理并绘制出该待测材料的应变随温度变化的曲线，由该曲线便可得出待测材料的线膨胀系数。该方法安全、可靠，适宜测量聚合物基泡沫材料在宽温区的线膨胀系数。