用位移传感器测量聚合物基泡沫材料弹性模量的方法
- 申请号:CN200410009834.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院理化技术研究所
- 公开(公开)号:CN1779432
- 公开(公开)日:2006.05.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 用位移传感器测量聚合物基泡沫材料弹性模量的方法 | ||
申请号 | CN200410009834.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN1779432 | 公开(授权)日 | 2006.05.31 |
申请(专利权)人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明(设计)人 | 付绍云;黄传军;潘勤彦;赵立中 |
主分类号 | G01N3/08(2006.01) | IPC主分类号 | G01N3/08(2006.01);G01N19/00(2006.01);G01B7/16(2006.01) |
专利有效期 | 用位移传感器测量聚合物基泡沫材料弹性模量的方法 至用位移传感器测量聚合物基泡沫材料弹性模量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及的用位移传感器测量聚合物基泡沫 材料弹性模量的方法,包括如下步骤:1)将待测聚合物基泡沫 材料的测量区固定在位移传感器的两钳臂的端部,并一并置入 电子万能材料实验机;2)将位移传感器的相互连接成惠斯通桥 的电阻应变片的连接引线分别与应变仪电连接,应变仪与计算 机相连接;3)对待测的聚合物基泡沫材料施加压缩力或拉伸力, 应变仪测得的该待测聚合物基泡沫材料的应力-应变数据输 入计算机,由计算机绘制出该待测聚合物基泡沫材料的应力- 应变关系曲线,由曲线便可得出该待测的聚合物基泡沫材料特 性模量。该方法可在室温及低温下进行弹性模量的测量,操作 简单,准确度和灵敏度较高。 |
交易流程
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专利 -
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