专利详情

专利名称	一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法
申请号	CN200810239330.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101750553A	公开（授权）日	2010.06.23
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	刘禹;关强;赵健;曾隽芳
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I
专利有效期	一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法至一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明为一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法，包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内；环形器、频谱分析仪、RFID信号发生器、功率计置于标准测试环境外；方法是将RFID标签芯片和天线看作整体，用电磁波在自由空间的传播公式，通过参考和收发天线测量RFID标签系统的输入和输出电平，推算能够激活RFID标签工作的最小电平，再对RFID标签的理论读取距离评估。通过对决定RFID标签性能的重要指标之一的RFID标签功耗进行科学、可重复、可比较的非接触测量，解决现有技术指标不明确、测试结果误差大的问题，为使用者根据不同应用需求选择RFID标签产品提供辅助决策依据。