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分子束外延生长GaN基发光晶体膜的方法

  • 申请号:CN201010017135.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  • 公开(公开)号:CN101748382A
  • 公开(公开)日:2010.06.23
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 分子束外延生长GaN基发光晶体膜的方法
申请号 CN201010017135.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101748382A 公开(授权)日 2010.06.23
申请(专利权)人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 发明(设计)人 曾雄辉;徐科;王建峰;任国强;黄凯;包峰;张锦平
主分类号 C23C16/34(2006.01)I IPC主分类号 C23C16/34(2006.01)I;C23C16/448(2006.01)I;C23C16/52(2006.01)I
专利有效期 分子束外延生长GaN基发光晶体膜的方法 至分子束外延生长GaN基发光晶体膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明揭示了一种分子束外延生长GaN基发光晶体膜的方法,在生长过程中掺杂稀土离子,取代部分Ga3+的晶格格位,其特征在于:在所述GaN晶体膜的原料配方中按比例掺入III族元素硼或铝,在生长过程中所述III族元素硼或铝以三价离子的形式进入GaN晶格,调配稀土离子和Ga3+之间的离子半径差;所述原料配方摩尔比例为:Ga∶Re∶A=(1-x-y)∶x∶y,其中Re表示稀土金属,A表示III族元素硼或铝,0.1%≤x≤10.0%,0.1x≤y≤x。本发明由于采用了III族元素硼或铝和稀土金属按一定配比进行共掺,从而能在很大程度上改善因为Re3+和Ga3+之间较大的半径失配而造成的GaN晶体膜晶格畸变,从而提高GaN晶体膜的发光性能。

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