专利详情

专利名称	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置
申请号	CN200910020843.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101776454A	公开（授权）日	2010.07.14
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽
主分类号	G01C15/10(2006.01)I	IPC主分类号	G01C15/10(2006.01)I
专利有效期	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置至一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置	法律状态	专利权质押合同登记的生效、变更及注销
说明书摘要	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测方法及其装置，该方法包括建立坐标系OXYZ、自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准，记录瞄准示值β1；位于第二状态时，自准直仪对直角反射棱镜进行瞄准，并记录瞄准示值β2、由第二状态至第三状态时，自准直仪再对直角反射棱镜进行瞄准，并记录瞄准示值β3以及对3次测量的β1、β2以及β3按照其矢量关系进行处理的步骤。本发明测量精度可以控制在8″以内，同时具有测量原理简单，操作容易等优点。本发明可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。