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毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法

  • 申请号:CN201110139551.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN102307070A
  • 公开(公开)日:2012.01.04
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法
申请号 CN201110139551.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102307070A 公开(授权)日 2012.01.04
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 吴亮;孙晓玮;李江夏;钱蓉;佟瑞;楼丹;胡泽鑫;沈玮
主分类号 H04B17/00(2006.01)I IPC主分类号 H04B17/00(2006.01)I
专利有效期 毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法 至毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法 法律状态 授权
说明书摘要 本发明公开了一种毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法,该方法包括:初始化毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统;校准毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统,完成无待测件情况下的空间传输特性测试,获得校准状态下的测试信息;完成有待测件情况下的传输特性测试,获得测试状态下的测试信息;获得发射端与接收端在每一个频率值下对应的功率信息;将测试状态下获得的功率信息减去校准状态下获得的功率信息,显示出待测件传输特性的测试曲线。本发明实现了76GHz~77GHz传输特性参数的自动测试,克服了毫米波测试手段与测试设备缺乏的困难,避免了测试设备成本昂贵,体积庞大,不易实现自动控制等缺点。

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