
一种微纳米热检测传感组件
- 申请号:CN200910198452.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
- 公开(公开)号:CN102053171A
- 公开(公开)日:2011.05.11
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种微纳米热检测传感组件 | ||
申请号 | CN200910198452.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102053171A | 公开(授权)日 | 2011.05.11 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明(设计)人 | 曾华荣;殷庆瑞;惠森兴;赵坤宇;李国荣 |
主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I;G01Q60/38(2010.01)I;G01N25/00(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I |
专利有效期 | 一种微纳米热检测传感组件 至一种微纳米热检测传感组件 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明揭示了一种微纳米热检测传感组件,包括:加热并探测被测样品温度的热探针;在热探针检测时探测环境温度的参考探针;以磁力吸住热探针的底板,对热探针定位的磁性底座;隔离体,设置于磁性底座下方;定位器,采用压板结构,将热探针的引线压住,对热探针起辅助定位作用;输出连接体电路板,包括印刷线路板和连接器,印刷电路板与参考探针和热探针的输出端相连,连接器用于与外部检测桥路相连;测试支架,用于固定输出连接体电路板、磁性底座、隔离体和定位器。本发明具有检测灵敏度高、抗外部环境干扰强等特点,并可与商用原子力显微镜(AFM)完全兼容,原位获得被测样品的形貌像与热学像。其热成像分辨率达60纳米,优于同类国外产品。 |
交易流程
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专利 -
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