专利详情

专利名称	激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备
申请号	CN201010573795.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102034266A	公开（授权）日	2011.04.27
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	田捷;韩冬;杨鑫;秦承虎;吴萍
主分类号	G06T17/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06T17/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I
专利有效期	激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备至激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法，包括步骤：利用有限元理论首先将扩散方程表示为线性化方程；建立未知的荧光光源分布与边界测量数据之间的线性关系；计算余量相关度向量得到最相关元素集合；将最相关元素集合与当前支撑集合并，生成新的支撑集；利用支撑集将离散后的成像空间分为允许区域和禁止区域，建立表面荧光数据与允许区域的线性关系；将最终得到的解向量中的负元素替换为0。本发明基于扩散近似模型，充分地考虑了生物组织的非匀质特性。在光源重建过程中，基于L1范数的稀疏性约束，并将TFI问题看作是压缩感知问题，利用基于支撑集的重建方法进行光源定位，有效地避免了重建结果的过平滑现象，提高了TFI成像的精度。