专利详情

专利名称	一种导电流体密度的测量装置及测量方法
申请号	CN200510069943.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1673731	公开（授权）日	2005.09.28
申请（专利权）人	中国科学院力学研究所	发明（设计）人	范学军
主分类号	G01N27/413	IPC主分类号	G01N27/413;G01N27/49
专利有效期	一种导电流体密度的测量装置及测量方法至一种导电流体密度的测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种导电流体密度的测量装置，包括：探针和控制电路，所述探针包括一根绝缘管和两根电极，所述两根电极距离所述绝缘管一端适当距离并排横向插入该绝缘管，并与所述控制电路相连，所述绝缘管的另一端与参考压力相连，通过调节参考压力以使经过电极的溶液流动速度与当地流动速度相当；所述控制电路包括交变电流源、电极控制电路、整流电路、积分电路和信号锁定电路，交变电流源对所述电极进行充电，电极控制电路将所述电极采集的信号依次经整流电路、积分电路和信号锁定电路，最后输入计算机进行数据处理。本发明能够迅速和准确地测量导电流体的密度分布及其瞬时脉动信息，包括脉动强度和频率，可以应用于导电流体的湍流研究。