
双波前校正器自适应光学系统
- 申请号:CN200510011422.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN1664650
- 公开(公开)日:2005.09.07
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 双波前校正器自适应光学系统 | ||
申请号 | CN200510011422.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN1664650 | 公开(授权)日 | 2005.09.07 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 胡诗杰;许冰;张翔 |
主分类号 | G02B27/00 | IPC主分类号 | G02B27/00;G01D5/26 |
专利有效期 | 双波前校正器自适应光学系统 至双波前校正器自适应光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 双波前校正器自适应光学系统包括倾斜反射镜、 两个波前校正器、波前传感器、分光镜、波前处理机等,两个 波前校正器根据系统中实际像差的需要分别实现对低阶像差 和高阶像差的校正,校正低阶像差的波前校正器要求具有较大 行程,校正高阶像差的波前校正器具有较高的空间频率。本发 明避开了制作同时具有大行程、高空间频率两个特征波前校正 器这样一个困难,在提高系统校正能力的同时也提高了系统的 性价比。本发明不仅可以用于改善激光光束质量,还可用于人 眼自适应光学系统、ICF等各种具有较大低阶像差的自适应光 学系统。 |
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