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多波段红外辐射自动测量系统

  • 申请号:CN201010130439.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN101793563A
  • 公开(公开)日:2010.08.04
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 多波段红外辐射自动测量系统
申请号 CN201010130439.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101793563A 公开(授权)日 2010.08.04
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 张建;曹剑中;屈恩世;范哲源;焦国华
主分类号 G01J5/54(2006.01)I IPC主分类号 G01J5/54(2006.01)I;G01J5/08(2006.01)I
专利有效期 多波段红外辐射自动测量系统 至多波段红外辐射自动测量系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种多波段红外辐射自动测量系统,可适时自动测量复杂背景下被测物在不同波段内的红外辐射特性,完全满足长期无故障自动观测辐射定标测量的需求。该多波段红外辐射自动测量系统包括扫描装置、分光装置、红外探测装置和控制系统/电路,其中扫描装置、分光装置、红外探测装置依次设置于辐射入射方向的光路上;扫描装置包括可旋转的保护窗、旋转反射镜和固定的双黑体校正组件。本发明使用光谱分光以及波段调制扫描技术,选用两个中、长波探测器与之匹配,增加了可测量的光学通道,有效形成对更多的长波和中波波段的辐射定标测量;且压缩了黑体辐射腔所要求的辐射尺寸,降低了黑体设计、制造的难度,提高了可控制的精度。

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