自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置
- 申请号:CN201010121435.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN101806957A
- 公开(公开)日:2010.08.18
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置 | ||
申请号 | CN201010121435.3 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101806957A | 公开(授权)日 | 2010.08.18 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 顾乃庭;杨泽平;黄林海;饶长辉 |
主分类号 | G02B26/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B26/06(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I |
专利有效期 | 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置 至自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置,由波前传感器、波前记录器、波前校正器、能够平移和旋转的电控平移台、位置失配评估器、平移台控制器和计算机组成;通过计算机给波前校正器独立单元施加电压的方式标记波前校正器的位置,利用波前传感器自身的波前探测能力测量波前传感器与波前校正器之间的位置失配。光束经波前校正器反射后进入波前传感器,由波前记录器记录波前传感器探测到的波前校正器面形信息,位置失配评估器根据波前记录器记录信息计算并输出位置失配数据到平移台控制器中,最后由平移台控制器控制电控平移台完成对波前传感器的位置调整。本发明能够准确对准波前传感器与波前校正器的位置,大大提高两者对准精度和对准效率,保证自适应系统的波前控制能力。 |
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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