专利详情

专利名称	一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法
申请号	CN200410084659.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1616953	公开（授权）日	2005.05.18
申请（专利权）人	中国科学院上海硅酸盐研究所	发明（设计）人	史迅;陈立东;黄向阳;王东立;柏胜强;姚琴;蒋俊
主分类号	G01N27/00	IPC主分类号	G01N27/00;G01N27/14
专利有效期	一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法至一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法。所述的测量系统包括样品支架、温差控制装置以及计算机控制；样品通过固定支架固定在支架上，且通过温差控制装置采用一端加热或冷却形成温差方法，样品上的T₁、 T₂和ΔE电信号由支架装置引出到测试仪表的扫描卡，扫描卡按 T₁、 T₂、ΔE、 T₂、 T₁的扫描顺序依次扫描，输入纳伏仪且在计算机中获得数据，取两次 T₁和 T₂平均值计算出ΔT，按所得ΔE －ΔT关系，计算出赛贝克系数。本发明解决了ΔT的大小与测量精度相互矛盾的问题，每个温度点测量周期小于10分钟且对样品无特殊要求。