用于纳米级位移系统的纳米扫描台
- 申请号:CN200920187553.7
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学技术大学
- 公开(公开)号:CN201518227U
- 公开(公开)日:2010.06.30
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 用于纳米级位移系统的纳米扫描台 | ||
申请号 | CN200920187553.7 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN201518227U | 公开(授权)日 | 2010.06.30 |
申请(专利权)人 | 中国科学技术大学 | 发明(设计)人 | 王克逸;吴云良;张兴华;郝鹏 |
主分类号 | G12B21/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G12B21/20(2006.01)I |
专利有效期 | 用于纳米级位移系统的纳米扫描台 至用于纳米级位移系统的纳米扫描台 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本实用新型涉及用于扫描探针显微镜的纳米扫描台,其包括安装于矩形底板上的扫描台支架,纳米扫描台内设有柔性铰链;柔性铰链为四棱短管状,其每一侧壁均为由内侧壁和外侧壁组成的夹层薄壁,每一侧外侧壁均通过细杆连接着内套筒外端,内套筒内侧连接着压电陶瓷管,压电陶瓷管的另一端连接着外套筒内侧,外套筒的外端连接着扫描台支架,且四根压电陶瓷管均布在扫描台的两个对角线方向的四个角处;柔性铰链的轴向顶面连接着样品台。本实用新型不但保留了传统结构中径向(XY方向)的大扫描范围,更扩大了轴向(Z向)的移动范围;其结构简单,体积小,易于封装;同时也能用于各种需要纳米级位移的系统中。 |
交易流程
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