制作砷化铟/磷化铟量子点激光器有源区的方法
- 申请号:CN201210150154.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN102684070A
- 公开(公开)日:2012.09.19
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 制作砷化铟/磷化铟量子点激光器有源区的方法 | ||
申请号 | CN201210150154.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102684070A | 公开(授权)日 | 2012.09.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 罗帅;季海铭;杨涛 |
主分类号 | H01S5/343(2006.01)I | IPC主分类号 | H01S5/343(2006.01)I |
专利有效期 | 制作砷化铟/磷化铟量子点激光器有源区的方法 至制作砷化铟/磷化铟量子点激光器有源区的方法 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种制作砷化铟/磷化铟量子点激光器有源区的方法,包括如下步骤:步骤1:选择一磷化铟衬底;步骤2:在该磷化铟衬底上外延生长一层磷化铟缓冲层;步骤3:在磷化铟缓冲层上沉积晶格匹配的铟镓砷磷薄层;步骤4:在铟镓砷磷薄层上外延生长多周期的砷化铟量子点有源层;步骤5:在砷化铟量子点有源层上沉积铟镓砷磷盖层,完成量子点激光器有源区的制备。本发明是在砷化铟/磷化铟量子点生长停顿间隙,通过改变五族保护源流量来抑制As/P互换效应,调控量子点形貌,结合两步生长盖层技术,达到既保持良好光学性能又能调谐发光波长的目的。这种方法可以实现InAs/InP量子点发光波从1.3-1.7微米(μm)宽达400nm的范围内可控调节。 |
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