专利详情

专利名称	一种硅藻样品分层氟化的分析方法
申请号	CN201010244436.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102156163A	公开（授权）日	2011.08.17
申请（专利权）人	中国科学院地质与地球物理研究所	发明（设计）人	李铁军;李洪伟;冯连君;张福松;霍卫国
主分类号	G01N27/62(2006.01)I	IPC主分类号	G01N27/62(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I
专利有效期	一种硅藻样品分层氟化的分析方法至一种硅藻样品分层氟化的分析方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种硅藻样品分层氟化的分析方法，包括：(1)将所述硅藻样品颗粒的表层氧去除掉；(2)在真空条件下，用氟化剂对去除了表层氧的硅藻样品颗粒进行完全氟化；(3)将完全氟化生成的O2转化成CO2，并将CO2进行质谱分析，以得到硅藻样品的δ18O‰值，将所述硅藻样品的表层氧去除掉的方法包括：在真空条件下，用氟化剂对硅藻样品颗粒进行预氟化，以硅藻样品颗粒中的二氧化硅计，相对于100摩尔的二氧化硅，预氟化所用氟化剂的用量为40-60摩尔。本发明提供的分析方法能够有效地将硅藻样品颗粒的表层氧去除掉，并且无需额外的设备，在有效地获得特征氧同位素信息的情况下，也大大地拓展了硅藻氧同位素分析法的应用范围。