专利详情

专利名称	电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法
申请号	CN201210135131.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102680819A	公开（授权）日	2012.09.19
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	张瑾;仇志杰
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I
专利有效期	电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法至电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连。放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测器件的源极(S)相连。恒流测试电源的正极与被测器件的漏极(D)相连，恒流测试电源的负极与被测器件的源极(S)相连。失效判断电路的两个输入端分别与测试电源的正极和负极相连。第二开关(K2)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第二开关(K2)的另一端与恒流加热电源的正极相连，恒流加热电源的负极与被测器件的源极(S)相连。