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一种三维位置跟踪测量装置

  • 申请号:CN201020655734.0
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院沈阳自动化研究所
  • 公开(公开)号:CN201885688U
  • 公开(公开)日:2011.06.29
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种三维位置跟踪测量装置
申请号 CN201020655734.0 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN201885688U 公开(授权)日 2011.06.29
申请(专利权)人 中国科学院沈阳自动化研究所 发明(设计)人 朱思俊;郭大忠;邹媛媛;柳连柱;赵明扬;许石哲
主分类号 G01B11/00(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/00(2006.01)I
专利有效期 一种三维位置跟踪测量装置 至一种三维位置跟踪测量装置 法律状态 授权
说明书摘要 本实用新型属于测量领域,具体地说是一种三维位置跟踪测量装置,干涉仪本体、偏差检测系统及二维随动系统分别安装在支撑件上,目标反射镜安装在被测机器人上,干涉仪本体的激光输出端设有干涉计镜组,两个转向元件分别安装在二维随动系统上,具平行及垂直于激光光路的两个移动自由度;偏差检测系统包括分光元件及光斑位置传感器,干涉仪本体发射的激光依次通过干涉计镜组、分光元件,经两个转向元件转向后照射到目标反射镜上,目标反射镜反射的光经两个转向元件后照射到偏差检测系统上,通过分光元件分为两路,一路反射回干涉仪本体,另一路照射在光斑位置传感器上。本实用新型测量精度高,结构简单,便携性好;测量方法简单,可靠性强。

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