专利详情

专利名称	原子力显微镜的力示踪方法
申请号	CN201210146642.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102662087A	公开（授权）日	2012.09.12
申请（专利权）人	中国科学院长春应用化学研究所	发明（设计）人	王宏达;潘延刚;蒋俊光;单玉萍;蔡明军
主分类号	G01Q60/24(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q60/24(2010.01)I;G01Q60/26(2010.01)I
专利有效期	原子力显微镜的力示踪方法至原子力显微镜的力示踪方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	原子力显微镜的力示踪方法，涉及微观力测量方法技术领域，解决了现有的AFM单分子力谱法检测到的力信号容易被认为是AFM探针本身运动产生的而不是细胞表面上的动态过程产生的问题。原子力显微镜的力示踪方法，在反馈调节系统的控制下完成进针后，关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，微悬臂随即发生偏转；利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系。本发明避免了压电陶瓷扫描器驱动AFM探针在Z方向的运动对被测物表面动态过程研究的影响。