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发光二极管封装结构的制作方法

  • 申请号:CN201110198263.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN102231421A
  • 公开(公开)日:2011.11.02
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 发光二极管封装结构的制作方法
申请号 CN201110198263.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102231421A 公开(授权)日 2011.11.02
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 杨华;卢鹏志;谢海忠;于飞;郑怀文;薛斌;伊晓燕;王军喜;王国宏;李晋闽
主分类号 H01L33/00(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/48(2010.01)I;H01L33/38(2010.01)I
专利有效期 发光二极管封装结构的制作方法 至发光二极管封装结构的制作方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种发光二极管封装结构的制作方法,包括以下步骤:在绝缘衬底上利用金属有机物气相外延的方法依次生长n型层、有源层和p型层;光刻在p型层上面的一侧向下到达n型层的表面形成第一台面,在另一侧向下刻蚀到达绝缘衬底的表面,形成第二台面;在第一、二台面上制作导电通孔并填充导电金属;在靠近第二台面的一侧并覆盖部分p型层的上表面,制作绝缘层;在绝缘层上并覆盖绝缘层制作p电极;在第一台面上的导电通孔上制作n电极;将绝缘衬底减薄;在绝缘衬底的背面的两侧分别制作第一背电极和第二背电极,以上得到器件的基底;在器件的基底上封装一光学元件,完成基底上器件的制作;采用机械方式将基底上器件切割成独立的器件。

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