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用于扫描探针显微镜的可升温样品平台

  • 申请号:CN00257823.9
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院低温技术实验中心
  • 公开(公开)号:CN2443365
  • 公开(公开)日:2001.08.15
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 用于扫描探针显微镜的可升温样品平台
申请号 CN00257823.9 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN2443365 公开(授权)日 2001.08.15
申请(专利权)人 中国科学院低温技术实验中心 发明(设计)人 刘静;周一欣
主分类号 G01N13/10 IPC主分类号 G01N13/10;G01N1/44
专利有效期 用于扫描探针显微镜的可升温样品平台 至用于扫描探针显微镜的可升温样品平台 法律状态 授权
说明书摘要 本实用新型涉及的可升温样品平台,包括铜块样 品台、加热元件、测温传感元件及加热、控温电路等,其内装有 加热元件的铜块样品台固定在空心支撑件上端盖上,其露出支 撑件中外的端部安装测温传感元件,位于支撑件内的外表面上 覆有绝热材料,绝热材料底部与支撑件之间留有间隙,支撑件底 端固定在绝热基底上;其结构简单、价格低廉,测温精度高,动态 响应速度快,变温范围宽,不需增加任何辅助设备,便适用所有普 通扫描探针显微镜。

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