
一种基于条纹反射的离轴非球面镜检测方法
- 申请号:CN201110367837.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102494634A
- 公开(公开)日:2012.06.13
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种基于条纹反射的离轴非球面镜检测方法 | ||
申请号 | CN201110367837.6 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102494634A | 公开(授权)日 | 2012.06.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 赵文川;范斌;万勇建;伍凡 |
主分类号 | G01B11/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于条纹反射的离轴非球面镜检测方法 至一种基于条纹反射的离轴非球面镜检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种基于条纹反射的离轴非球面镜检测方法,测量系统由被测镜、显示屏和CCD摄像机组成。首先以离轴非球面镜中心建立世界坐标系,并得到世界坐标系、显示屏坐标系及摄像机坐标系之间的关系。测量时,在显示屏上正(余)弦周期性条纹图样,投影在被测镜上被反射回来,由摄像机进行拍摄。通过相移技术及相位展开技术得到相位分布,再结合各坐标之间的关系得到被测非球面的法线向量分布,最后积分重建被测离轴非球面的面形高度信息。 |
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