专利详情

专利名称	纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件
申请号	CN200810100564.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101281134	公开（授权）日	2008.10.08
申请（专利权）人	中国科学院安徽光学精密机械研究所	发明（设计）人	毛庆和;廖艳林
主分类号	G01N21/65(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/65(2006.01)I
专利有效期	纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件至纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件，激光器作为有毒物质的激发光源将激光耦合到光纤中，进入第一环形器，从第一环形器上输出激光照射在粘有有毒物质的纳米衬底上，由于表面增强拉曼散射效应产生拉曼信号光，相对于激发光源频率有一个频移的拉曼信号，返回第一环形器；再到达第二环形器经过可调光纤布拉格光栅，使信号光返回进入第二环形器，并从探测端口输出到光探测器，由光探测器测量信号光光强，分辨该待测有毒物质。在本发明中，调节可调光纤布拉格光栅，如果光探测器探测到有光信号，可以通过可调光纤布拉格光栅的调节装置的调节状态得到该信号光的频率，这样就可以检测该待测有毒物质。该发明的测量精度高，且操作简单易实现。