
一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法
- 申请号:CN200710064593.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
- 公开(公开)号:CN101268949
- 公开(公开)日:2008.09.24
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法 | ||
申请号 | CN200710064593.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101268949 | 公开(授权)日 | 2008.09.24 |
申请(专利权)人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明(设计)人 | 李可;魏龙;李道武;章志明;孔伟;单宝慈;王宝义 |
主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G06F17/00(2006.01)I;G06Q50/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法 至一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及医学断层成像及核成像领域,特别是一种用于正电子断 层扫描设备中符合系统第一组板卡,一个信号缓存单元,第二组接收板 卡,一个数据缓存单元,一个参考时钟17,一个时钟调整单元,现场可 编程门阵列;方法:利用现场可编程门阵列进行各个事件之间的时间、 位置和能量的判断,通过这些判选规则的两个事件成为一个符合事例。 通过引入现场可编辑门阵列,采用编写硬件描述语言来快速、高效地处 理由PET仪器前端探测器模块捕获到的事例信息,以确定符合事件的发 生。本发明是现有PET符合系统处理的改进。本发明使用一片FPGA即可 高效、快速地完成符合系统的处理,在获得高的系统灵敏度的同时没有 给系统引入死时间。 |
交易流程
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专利 -
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