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砷化镓衬底改进的快速减薄方法

  • 申请号:CN201010577694.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102543665A
  • 公开(公开)日:2012.07.04
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 砷化镓衬底改进的快速减薄方法
申请号 CN201010577694.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102543665A 公开(授权)日 2012.07.04
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 汪宁;陈中子;陈晓娟;刘新宇;罗卫军;庞磊
主分类号 H01L21/02(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/02(2006.01)I
专利有效期 砷化镓衬底改进的快速减薄方法 至砷化镓衬底改进的快速减薄方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 公开了一种砷化镓衬底改进的快速减薄方法。该方法基于在砷化镓衬底通过化学试剂进行砷化镓外延晶片的粘附,同时采用真空加压方法进行固定,再使用多层叠加结构来缓冲减薄时带来的损伤和减小尺寸失真,采用独特材质的软陶瓷研磨盘来实现高速精确的背面减薄,再配合使用混合氧化铝研磨浆液,达到小于60?m的厚度。在研磨结束以后,使用纳米抛光溶液进行CMP(化学机械抛光)工艺,达到衬底厚度小于50?m,公差小于±1?m,粗糙度Ra小于1nm的高镜面效果。抛光完后的衬底不龟裂,不卷曲,无划伤等效果。

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