专利详情

专利名称	RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法
申请号	CN200910087129.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101931472A	公开（授权）日	2010.12.29
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	刘禹;关强;刘怀达;赵健
主分类号	H04B17/00(2006.01)I	IPC主分类号	H04B17/00(2006.01)I;H04B1/10(2006.01)I;H04B1/713(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I
专利有效期	RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法至RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明为一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法，由标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，其方法是通过人为施加功率、频率可控的RFID读写器模拟邻道干扰信号，统计在可接受读取率下的最大邻道干扰强度，从而科学的、可重复的对RFID读写器的抗邻道干扰能力进行评价，在相同的可接受读取率下，邻道干扰越强就说明该待测读写器的抗邻道干扰能力越强。通过模拟RFID读写器的邻道干扰对读写器的读取率进行测试，为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。