基于JTC的高精度光电混合像移测量装置
- 申请号:CN200920245231.3
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN201680816U
- 公开(公开)日:2010.12.22
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 基于JTC的高精度光电混合像移测量装置 | ||
申请号 | CN200920245231.3 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN201680816U | 公开(授权)日 | 2010.12.22 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 易红伟;李英才;李旭阳;马臻;姚大雷;赵惠 |
主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G06E3/00(2006.01)I |
专利有效期 | 基于JTC的高精度光电混合像移测量装置 至基于JTC的高精度光电混合像移测量装置 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本实用新型涉及基于JTC的高精度光电混合像移测量装置,包括激光器、设置在该激光器光路上的准直镜、设置在该准直镜的出射光路上的空间光调制器SLM、设置在空间光调制器SLM的出射光路上的傅立叶透镜和用于接收该傅立叶透镜的出射光线的CCD器件,该装置还包括连接于所述CCD器件的输出端的用于结合联合变换功率谱数据进行局部离散傅立叶变换计算、来获得互相关峰邻域的升采样影像的数字处理单元。本实用新型只需要一套光学傅立叶变换装置,有利于缩小整个检测装置的体积、成本,降低系统的复杂性,所提出的互相关峰检测技术能够在不增加计算量的情况下获得互相关峰的高分辨率内插数据,实现对影像间错位或像移的高精度检测。 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言