八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置
- 申请号：CN201120024362.6
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN202033175U
- 公开(公开)日：2011.11.09
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置 | ||
| 申请号 | CN201120024362.6 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN202033175U | 公开（授权）日 | 2011.11.09 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 朱玲琳;张佩;鲍建飞;蔡舒窈;肖艳芬;曾爱军;黄惠杰 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置 至八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 一种八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射光栅、聚焦透镜、衰减器、检偏器阵列、光电探测器阵列和信号处理系统组成，本实用新型能实时地测量八分之一波片的相位延迟量和快轴方位角，而且测量结果不受光源光强波动的影响。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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