专利详情

专利名称	基于中外红量子级联激光器直接吸收光谱法的痕量气体检测装置及方法
申请号	CN201010583546.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102175641A	公开（授权）日	2011.09.07
申请（专利权）人	中国科学院安徽光学精密机械研究所	发明（设计）人	刘文清;汤媛媛;许振宇;张亮;刘建国;阚瑞锋;张玉钧
主分类号	G01N21/39(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/39(2006.01)I
专利有效期	基于中外红量子级联激光器直接吸收光谱法的痕量气体检测装置及方法至基于中外红量子级联激光器直接吸收光谱法的痕量气体检测装置及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于中外红量子级联激光器直接吸收光谱法的痕量气体检测装置及方法，以可调谐的量子级联激光器作为光源，利用气体分子在中红外波段的基频“指纹”吸收特征获得待测气体分子的浓度信息；利用直接吸收光谱技术，所测结果受激光器光强波动的影响较小，具有较高的信噪比和一定的抗干扰能力；将测得的光谱与HITRAN数据库中对应气体的谱线特征对比，可分析确定所测气体是否含有预期气体成分，并且利用HITRAN数据库提供的谱线参数进行浓度反演。本发明系统结构简单、紧凑，使用维护方便，具有测量灵敏度高，精度高，响应速度快的特点，可实现多种痕量气体及同位素比值的快速、准确在线分析检测，能够用于中红外光斑的指示和快速准确定位。