专利详情

专利名称	优化版图栅长的方法及其装置
申请号	CN201210062173.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102663155A	公开（授权）日	2012.09.12
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;刘磊;陈天佐;吕志强
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	优化版图栅长的方法及其装置至优化版图栅长的方法及其装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种优化版图栅长的方法，包括：根据集成电路设计版图的具有寄生参数的电路网表，获得集成电路设计版图中每个标准单元的各个节点的当前延时时间和极限延时时间；根据标准单元中每个节点的当前延时时间和极限延时时间，获得各个节点对应的栅长调整长度；按照每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度，将集成电路设计版图中的栅沿栅长方向增加相应的调整长度，并对集成电路版图中的图形进行相应调整，以保持集成电路版图中的图形之间的相对位置关系不变。通过极限延时时间确定各标准单元内各个节点允许的栅长的调整长度，这样在满足原电路时序的前提下，进一步延长栅长，从整个电路上降低器件的泄漏电流，并保证原有设计规则。