单片集成红外焦平面探测器
- 申请号：CN201310024184.0
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号：CN103076099A
- 公开(公开)日：2013.05.01
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 单片集成红外焦平面探测器 | ||
| 申请号 | CN201310024184.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103076099A | 公开（授权）日 | 2013.05.01 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 殷华湘;王玉光;陈大鹏 |
| 主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/00(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I |
| 专利有效期 | 单片集成红外焦平面探测器 至单片集成红外焦平面探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种单片集成红外焦平面探测器，包括：衬底；TFT信号读出电路阵列以及TFT信号处理电路阵列，位于衬底之上；红外探测像素单元阵列，位于TFT信号读出电路阵列之上。相应地，本发明还提供了单片集成红外焦平面探测器的制造方法。本发明利用非晶态氧化物半导体的高迁移率、高均匀性和简单工艺的特性，将处理电路、读出电路与探测器阵列集成制作在同一衬底基板上。实现了制作探测器与读出电路的全薄膜工艺，在工艺流程上一次完成，因而降低了制作成本。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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