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定日镜风致位移测试装置及测试方法

  • 申请号:CN201110051476.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电工研究所
  • 公开(公开)号:CN102155904A
  • 公开(公开)日:2011.08.17
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 定日镜风致位移测试装置及测试方法
申请号 CN201110051476.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102155904A 公开(授权)日 2011.08.17
申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 臧春城;王志峰;宫博;白凤武
主分类号 G01B7/02(2006.01)I IPC主分类号 G01B7/02(2006.01)I
专利有效期 定日镜风致位移测试装置及测试方法 至定日镜风致位移测试装置及测试方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种定日镜风致位移测试装置及测试方法,所述的测试装置的随动机构(2)的上端与被测定日镜(1)固连,随动机构(2)的下端与感应板(3)的上表面接触,感应板(3)与数据采集装置(5)和计算机(6)连接,感应板(3)感知接触头(29)接触位置的变化并将位置信息输入数据采集装置(5)和计算机(6)对位置信息进行分析;感应板(3)的上表面与地面平行,感应板(3)固定在感应板支架(4)上。在风振作用下,随动机构(2)与定日镜(1)测点处的构件同时产生位移,使得接触头(29)在感应板(3)的上表面移动。接触头(29)在感应板(3)上表面的位置变化信息输入数据采集装置(5)和计算机(6)进行处理,得到测点处的风致位移。

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