专利详情

专利名称	集成电路的测试装置
申请号	CN201210576911.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103064006A	公开（授权）日	2013.04.24
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	谢朝辉;赵明琦;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅
主分类号	G01R31/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/28(2006.01)I
专利有效期	集成电路的测试装置至集成电路的测试装置	法律状态	公开
说明书摘要	本发明提供一种集成电路的测试装置，包括：主控模块，用于运行嵌入式操作系统与测试程序，并发送控制命令；至少一个，与所述主控模块及待测集成电路子板相连的，用于依据所述控制命令获取所述待测集成电路子板的测试数据，并将所述测试数据回传至和所述主控模块的从属FPGA。本装置将待测集成电路子板与从属FPGA相连，从属FPGA与主控模块通过高速接口相连，从属FPGA的引脚除去时钟引脚与电源引脚外，有大量可配置用户引脚，用于与待测集成电路子板相连，避免了主控FPGA直接连接集成电路子板方式，导致提供至用户的接口数量有限，而无法对引脚数量较多的集成电路子板进行测试的问题。