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一种碳化硅晶体退火工艺

  • 申请号:CN201010588052.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:北京天科合达蓝光半导体有限公司;中国科学院物理研究所
  • 公开(公开)号:CN102534805A
  • 公开(公开)日:2012.07.04
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种碳化硅晶体退火工艺
申请号 CN201010588052.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102534805A 公开(授权)日 2012.07.04
申请(专利权)人 北京天科合达蓝光半导体有限公司;中国科学院物理研究所 发明(设计)人 王波;陈小龙;李龙远;刘春俊;彭同华;王刚
主分类号 C30B33/02(2006.01)I IPC主分类号 C30B33/02(2006.01)I;C30B29/36(2006.01)I
专利有效期 一种碳化硅晶体退火工艺 至一种碳化硅晶体退火工艺 法律状态 授权
说明书摘要 本发明主要应用于碳化硅晶体生长结束后处理领域,具体来说是通过减小温度梯度(晶体温度梯度1-10℃/cm),在压力1-8万帕以上的惰性气体下用1-5小时升到退火温度,退火温度在2300-2500℃,恒温10-40小时后再用10-50小时降温。通过这种退火工艺降低晶体与坩埚盖之间以及碳化硅晶体内部应力,从而降低后续加工过程中碳化硅晶体破损率,提高碳化硅晶体产率。

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