一种碳化硅晶体退火工艺
- 申请号:CN201010588052.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:北京天科合达蓝光半导体有限公司;中国科学院物理研究所
- 公开(公开)号:CN102534805A
- 公开(公开)日:2012.07.04
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 一种碳化硅晶体退火工艺 | ||
申请号 | CN201010588052.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102534805A | 公开(授权)日 | 2012.07.04 |
申请(专利权)人 | 北京天科合达蓝光半导体有限公司;中国科学院物理研究所 | 发明(设计)人 | 王波;陈小龙;李龙远;刘春俊;彭同华;王刚 |
主分类号 | C30B33/02(2006.01)I | IPC主分类号 | C30B33/02(2006.01)I;C30B29/36(2006.01)I |
专利有效期 | 一种碳化硅晶体退火工艺 至一种碳化硅晶体退火工艺 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本发明主要应用于碳化硅晶体生长结束后处理领域,具体来说是通过减小温度梯度(晶体温度梯度1-10℃/cm),在压力1-8万帕以上的惰性气体下用1-5小时升到退火温度,退火温度在2300-2500℃,恒温10-40小时后再用10-50小时降温。通过这种退火工艺降低晶体与坩埚盖之间以及碳化硅晶体内部应力,从而降低后续加工过程中碳化硅晶体破损率,提高碳化硅晶体产率。 |
交易流程
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