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高分辨率共聚焦显微镜

  • 申请号:CN200810117071.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN101634747
  • 公开(公开)日:2010.01.27
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 高分辨率共聚焦显微镜
申请号 CN200810117071.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101634747 公开(授权)日 2010.01.27
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 俞育德;李运涛;余金中
主分类号 G02B21/00(2006.01)I IPC主分类号 G02B21/00(2006.01)I;G02F1/01(2006.01)I
专利有效期 高分辨率共聚焦显微镜 至高分辨率共聚焦显微镜 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明是一种高分辨率共聚焦显微镜,包括激发光部分,由光源、 调制器阵列、扩束透镜组成;样品台部分,由样品台、光学调制器阵 列、物镜构成;收集光部分,由聚焦透镜、光学调制器阵列、光电倍 增管构成;图像处理部分,由信号放大电路、计算机组成。本发明提 出的高分辨率共聚焦显微镜具有光学调制器阵列,通过电学控制方法 实现光学调制器阵列的开光控制,取代传统共聚焦显微镜的机械旋转 部件和电动快门;并能够实现对扫描区域组合和孔径的自由控制。控 制光学调制器阵列全部打开,则显微镜为大视场显微镜;控制调制器 阵列局部打开,则为共焦扫描显微镜。可以实现样品的选区共焦成像。

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