一种对分子筛催化剂晶化过程进行原位表征的样品池及使用方法
- 申请号:CN200910075167.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院山西煤炭化学研究所
- 公开(公开)号:CN101629915
- 公开(公开)日:2010.01.20
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种对分子筛催化剂晶化过程进行原位表征的样品池及使用方法 | ||
申请号 | CN200910075167.3 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101629915 | 公开(授权)日 | 2010.01.20 |
申请(专利权)人 | 中国科学院山西煤炭化学研究所 | 发明(设计)人 | 王建国;王国富;董梅;秦张峰;吉向飞 |
主分类号 | G01N23/083(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/083(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I;G01N23/201(2006.01)I;G01N23/203(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种对分子筛催化剂晶化过程进行原位表征的样品池及使用方法 至一种对分子筛催化剂晶化过程进行原位表征的样品池及使用方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种对分子筛催化剂晶化过程进行原位表征的样品池是由池体,压环、密 封垫,窗片,池盖,紧固件,内芯和热电偶组件组成,是一个可以透过X射线, 又在0~300℃,0~3MPa条件下,以原位在线的方式对分子筛催化剂晶化过 程用XAFS(X射线吸收精细结构)、XRD(X射线衍射)、SAXS(X射线小角散射)、 SAXS/WAXS(X射线小角散射和广角衍射)进行研究。监测在这些过程中催化剂 结构的变化。 |
交易流程
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专利 -
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