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一种软X射线双频光栅剪切干涉系统

  • 申请号:CN201210022269.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学技术大学
  • 公开(公开)号:CN102590845A
  • 公开(公开)日:2012.07.18
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种软X射线双频光栅剪切干涉系统
申请号 CN201210022269.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102590845A 公开(授权)日 2012.07.18
申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 刘正坤;邱克强;刘颖;徐向东;付绍军
主分类号 G01T1/00(2006.01)I IPC主分类号 G01T1/00(2006.01)I
专利有效期 一种软X射线双频光栅剪切干涉系统 至一种软X射线双频光栅剪切干涉系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种软X射线双频光栅剪切干涉系统,其采用了一种双频光栅作为软X射线剪切干涉元件,利用掠入射条件下,该光栅的两组-1级衍射光束自剪切干涉,对穿过等离子体的X射线激光的波前检测。该剪切干涉仪中采用两个多层膜球面镜的成像系统,能够得到清晰的等离子体边界。本发明将剪切干涉系统成功应用于软X射线波段,利用剪切干涉系统共光程的特点,解决了马赫-曾德尔干涉仪测试系统中等光程的调节困难的问题,为利用剪切法诊断等离子体电子密度提供了关键技术。

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