专利详情

专利名称	一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置
申请号	CN200910055333.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101614610	公开（授权）日	2009.12.30
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	唐恒敬;李永富;朱耀明;李淘;李雪;龚海梅
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置至一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置，它由光源系统、偏振态控制系统、光阑、待测InGaAs探测器、电流放大器和示波器组成，其中偏振态控制系统由两个格兰-汤普森棱镜组成，用于产生纯净的线偏振光；待测InGaAs探测器置于一侧开孔的圆形柯伐管壳中，并且将光源系统、偏振态控制系统、光阑和待测InGaAs探测器置于光、热屏蔽罩中，通过旋转探测器的方式，使不同振动方向的线偏振光入射到探测器的光敏面上，可得到正入射和斜入射情况下InGaAs探测器的偏振敏感响应。本发明的装置和方法简捷实用、测试精度高，并可推广应用到可见光探测器的偏振敏感响应测试中。