专利详情

专利名称	一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器
申请号	CN200810012029.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101614533	公开（授权）日	2009.12.30
申请（专利权）人	中国科学院金属研究所	发明（设计）人	蔡桂喜;韩晓华;刘畅;徐华;董瑞琪;贾中青
主分类号	G01B17/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01B17/02(2006.01)I
专利有效期	一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器至一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种能精确测量超薄工件厚度方法，采用信号处理的方法来提取表征工件厚度的超声波信息，既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量普通工件厚度的超声测厚技术，它的核心是对接收到的回波信号进行快速傅里叶变换从而获得测量结果；一种能精确测量超薄工件厚度方法的仪器，由探头和主机两部分组成，主机部分包括DSP控制模块、超声波发射电路、超声波信号接收电路，信号放大电路、闸门电路、通讯接口，液晶显示器和键盘。本发明的优点：既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量普通工件厚度，可实时采集超声回波信号，实时的进行快速傅里叶变换，实时计算和存储管壁厚度，可以实现机械化自动测量。