电光系数测量装置
- 申请号：CN201210064304.5
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN102621110A
- 公开(公开)日：2012.08.01
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 电光系数测量装置 | ||
| 申请号 | CN201210064304.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102621110A | 公开（授权）日 | 2012.08.01 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张学娇;叶青;蔡海文;瞿荣辉 |
| 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/63(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I |
| 专利有效期 | 电光系数测量装置 至电光系数测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种电光系数测量装置由宽带光源、第一光纤、第一准直器、待测电光材料样品、第二准直器、第二光纤和光谱仪构成，待测样品的上下表面的镀金电极分别与电源的正负极相连，两端面构成F-P腔。本测量装置可以测量出立方晶体结构材料的全部电光系数张量元。本发明具有结构简单和测量精度高的特点。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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4、专员跟进，交易保障
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