专利详情

专利名称	一种测深声纳系统偏差校正方法
申请号	CN200810112482.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101587187	公开（授权）日	2009.11.25
申请（专利权）人	中国科学院声学研究所	发明（设计）人	刘晓东;朱维庆;高俊涛;张方生;孙宇佳
主分类号	G01S7/52(2006.01)I	IPC主分类号	G01S7/52(2006.01)I;G01S15/08(2006.01)I;G01S15/89(2006.01)I
专利有效期	一种测深声纳系统偏差校正方法至一种测深声纳系统偏差校正方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种测深声纳系统偏差校正方法，包括如下步骤：1)通过海上校准试验采集数据，得出各个待校准参量的初始值；2)选取一个待校准参量，根据各个待校准参量的当前值，计算出所选取的待校准参量的修正量；3)判断所选取的待校准参量的当前修正量是否小于预设的门限值或收敛于某一数值；如判断为否，则待校准参量的值用该待校准参量当前值与当前修正量之和替换，返回步骤2)，直至所有待校准参量的修正量均符合上述判定条件。本发明综合考虑系统中的各校准参量，利用反馈机制，降低了各系统偏差之间的影响，增加了各系统偏差修正量的准确性。同时本发明考虑了高分辨率测深侧扫声纳的各项特点，因此特别适合应用于高分辨率测深侧扫声纳。