
一种CT投影中心的自动校正方法
- 申请号:CN200810112193.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院过程工程研究所
- 公开(公开)号:CN101584587
- 公开(公开)日:2009.11.25
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种CT投影中心的自动校正方法 | ||
申请号 | CN200810112193.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101584587 | 公开(授权)日 | 2009.11.25 |
申请(专利权)人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明(设计)人 | 孟凡勇;王维;李静海 |
主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;G03B42/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种CT投影中心的自动校正方法 至一种CT投影中心的自动校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法,包括如下步骤:1)使 用CT对被测物进行全周扫描,得到在不同角度下被测物在探测器阵列的 各探测器单元的投影原始数据;2)对所述投影原始数据进行数据处理, 找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置;3)根据所述 被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对 所述投影原始数据进行校正,得到最终的二维断层数据。本发明无需采用 专用模体,无需移动被测物,即可对CT的中心投影位置进行校正,而且 本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行,节约了测量时 间,延长了射线源及探测器的有效工作寿命。 |
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