专利详情

专利名称	一种用于侧视层析合成孔径雷达的三维聚焦成像方法
申请号	CN200810106548.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101581780	公开（授权）日	2009.11.18
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	洪文;谭维贤;王彦平;吴一戎
主分类号	G01S7/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01S7/02(2006.01)I;G01S13/90(2006.01)I
专利有效期	一种用于侧视层析合成孔径雷达的三维聚焦成像方法至一种用于侧视层析合成孔径雷达的三维聚焦成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明一种用于侧视层析合成孔径雷达的三维聚焦成像方法，将采集到的侧视层析合成孔径雷达原始回波数据变换到斜距向波数域和方位向波数域中，对变换后的信号进行高程向频谱无混叠恢复，将信号变换到斜距向、方位向和高程向三维波数域中；通过坐标映射将三维波数域中的信号变换到直角坐标系中；通过傅立叶逆变换以及图像空间选择重建出包含成像区域地距向、方位向和高程向空间位置信息以及幅相信息的三维微波图像。该方法能够在高程向采样数较少、高程向合成孔径中心分布任意或成像区域大小任意的情况下，精确地重建出成像区域的三维微波图像，同时无需几何校正。该方法还能用于下视、下侧视层析SAR等成像观测几何中三维微波图像重建。