专利详情

专利名称	用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪
申请号	CN200810106277.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101576414	公开（授权）日	2009.11.11
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	刘运涛
主分类号	G01J11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J11/00(2006.01)I
专利有效期	用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪至用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪，包括温度控制器、光源、准直与会聚单元、分光与延迟单元、非线性效应单元和信号探测单元；其中，温度控制器用于控制作为光源的激光器的温度，解决激光器激射波长易漂移的问题，并可整体调整，实现光路调节；激光器作为光源，其出射光依次经过准直与会聚单元中的自聚焦透镜、分光与延迟单元、准直与会聚单元中的平凸透镜，以及非线性效应单元，进入信号探测单元，实现对激光器出射光的测量。本发明将激光器温度稳定在0.2°以内，并通过改变温度调节半导体激光器的输出波长，扩大可测试的波长范围，提高测试灵敏度，从而满足对红光半导体激光器产生超短脉冲进行测试的需要。