一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法
- 申请号：CN200810104816.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院计算技术研究所
- 公开(公开)号：CN101566669
- 公开(公开)日：2009.10.28
- 法律状态：专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
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专利详情
| 专利名称 | 一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 | ||
| 申请号 | CN200810104816.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN101566669 | 公开（授权）日 | 2009.10.28 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 杨旭;张戈;胡伟武 |
| 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 至一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 | 法律状态 | 专利实施许可合同备案的生效、变更及注销 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装 置和测试方法。该电路装置包括一个二选一电路模块，三个触发器以及一个表 决器。其在实现存储节点三模冗余的同时实现了扫描触发器的功能，以简单的 数字逻辑电路和较小的代价，提高半导体集成电路芯片的可靠性和可测性。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
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